P31、P30、P32、P33接在了51单片机的P3的0、1、2、3的IO口上。4 个按键另一端全部连接在 GND，当按键按下后，对应IO 口即为低电平。

然后由下图可知P31、P30、P32、P33默认接在VCC高电平

4*4矩阵键盘为例讲解其工作原理和检测方法。开发板上将 16 个按键排成 4行 4 列，第一行将每个按键的一端连接在一起构成行线，第一列将每个按键的另一端连接在一起构成列线，这样便一共有4行 4 列共 8 根线，我们将这8 根线连接到单片机的 8个 I/O 口上，通过程序扫描键盘就可检测 16 个键。用这种方法我们也可实现 3 行 3 列 9个键、 5 行5 列 25 个键、 6 行6 列 36 个键甚至更多。

无论是独立键盘还是矩阵键盘，单片机检测其是否被按下的依据都是一样的，也就是检测与该键对应的 I/O 口是否为低电平。独立键盘有一端固定为低电平，此种方式编程比较简单。 而矩阵键盘两端都与单片机 I/O 口相连，因此在检测时需编程通过单片机 I/O 口送出低电平。检测方法有多种，最常用的是行列扫描和线翻转法。

• 行列扫描法检测时，先送一列为低电平，其余几列全为高电平(此时我们确定了列数)，然后立即轮流检测一次各行是否有低电平，若检测到某一行为低电平(这时我们又确定了行数)，则我们便可确认当前被按下的键是哪一行哪一列的，用同样方法轮流送各列一次低电平，再轮流检测一次各行是否变为低电平，这样即可检测完所有的按键，当有键被按下时便可判断出按下的键是哪一个键。当然我们也可以将行线置低电平，扫描列是否有低电平。从而达到整个键盘的检测。
• 线翻转法，就是使所有行线为低电平时，检测所有列线是否有低电平，如果 有，就记录列线值；然后再翻转，使所有列线都为低电平，检测所有行线的值，由于有按键按下，行线的值也会有变化，记录行线的值。从而就可以检测到全部按键。

文字描述，还是比较难理解的，还是画图看一下；

红框重叠区域则为按下的按键。
注：应为单片机的IO口有上拉，所有默认情况下都是1

作者：Fail才是常事
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